U hebt in de velden die hieronder gemarkeerd worden weergegeven een waarde ingevoerd die ongeldige tekens bevat. Pas uw selectie aan met behulp van alleen geldige tekens.

Het product komt mogelijk niet exact overeen met uw zoekopdracht

U heeft dit product eerder gekocht. Bekijk de bestelgeschiedenis

 
 

SN74BCT8244ADW

Scan Test Device with Octal Buffers, 4.5 V to 5.5 V, SOIC-24

TEXAS INSTRUMENTS SN74BCT8244ADW
×
×

De afbeelding is alleen ter illustratie. Zie de productbeschrijving.

Artikelnr. fabrikant:
SN74BCT8244ADW
Ordercode:
3121022

Productoverzicht

The SN74BCT8244ADW is a Scan Test Device with octal buffers. This family of devices supports IEEE Standard 1149.1-1990 boundary scan to facilitate testing of complex circuit-board assemblies. Scan access to the test circuitry is accomplished via the 4-wire test access port (TAP) interface. In the normal mode, these devices are functionally equivalent to the F244 and BCT244 octal buffers. The test circuitry can be activated by the TAP to take snapshot samples of the data appearing at the device terminals or to perform a self-test on the boundary-test cells. Activating the TAP in normal mode does not affect the functional operation of the SCOPETM octal buffers. In the test mode, the normal operation of the SCOPETM octal buffers is inhibited and the test circuitry is enabled to observe and control the I/O boundary of the device. When enabled, the test circuitry can perform boundary-scan test operations, as described in IEEE Standard 1149.1-1990.
  • Members of the Texas Instruments SCOPETM family of testability products
  • Octal test-integrated circuits
  • Implement optional test reset signal by recognizing a double-high-level voltage (10V) on TMS pin
  • Parallel-signature analysis at inputs
  • Pseudo-random pattern generation from outputs
  • Sample inputs/toggle outputs
  • Green product and no Sb/Br

Toepassingen

Industrial, Test & Measurement

Productgegevens

Wilt u soortgelijke producten bekijken? Selecteer hieronder uw gewenste attributen en druk op de knop ×


:
Scan Test Device

:
SOIC

:
24Pins

:
4.5V

:
5.5V

:
0°C

:
70°C

:
-

:
MSL 1 - Unlimited

Zoeken naar vergelijkbare producten Kies en wijzig de bovenstaande eigenschappen om soortgelijke producten te zoeken.

Technische documenten (0)

CAD downloads

×

Voorwaarden en bepalingen

CAD Models - Notice
CAD Models and drawings are provided to you on a revocable limited licence for your internal use only but remain the property of the manufacturer who retain all intellectual property rights and ownership. They are provided to assist you in decision making and as design guide but are not guaranteed to be error free, accurate or up to date and is not intended to be taken as advice.
Use of these CAD models and other options provided are downloaded and used entirely at your own risk and by continuing you confirm acceptance of the above.

Accepteren Annuleren

10 Op voorraad Heeft u meer nodig?

Bestel voor 18.00 uur

De volgende werkdag bij u

13,97 €

Er zijn geen prijzen beschikbaar. Neem contact op met de klantenservice.

Prijs voor:
Each
Meerdere: 1 Minimum: 1
Hoeveelheid Prijs Uw prijs
 
 
1+ 13,97 €
Actieprijs
Contractprijs
Prijs alleen voor web
Contractprijs alleen voor web
 
10+ 12,19 €
Actieprijs
Contractprijs
Prijs alleen voor web
Contractprijs alleen voor web
 
25+ 11,68 €
Actieprijs
Contractprijs
Prijs alleen voor web
Contractprijs alleen voor web
 
50+ 10,98 €
Actieprijs
Contractprijs
Prijs alleen voor web
Contractprijs alleen voor web
 
100+ 10,28 €
Actieprijs
Contractprijs
Prijs alleen voor web
Contractprijs alleen voor web
 
 
 

Er zijn geen prijzen beschikbaar. Neem contact op met de klantenservice.

No longer stocked:: No Longer Manufactured::
Toevoegen aan winkelwagen Toevoegen aan winkelwagen Vooruit Bestellen
Toevoegen
Beperkt artikel
Onderdeelnr. toevoegen / Regelopmerking
Totaalprijs:
Totaalprijs: ( )
Totaalprijs: --